Technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.
Le microscope électronique à balayage (MEB) ou Scanning Electron Microscopy (SEM) en anglais a pour principe de capter et d’analyser les rayonnements émis par un échantillon posé sur une platine et recouvert de poussière d’or. Ce modèle de microscope ne “voit“ qu’en noir et blanc, c’est grâce à cette poussière d’or, à la réflection optimale, que l’on obtient ces niveaux de gris et ces contrastes si caractéristiques.
